LC-MS İyon Kaynağı Kirlenmesi (Ion Source Contamination) Teknik Servisi

LC-MS Sistemlerinde Ion Source Contamination Neden Oluşur?

LC-MS cihazlarında oluşan ion source contamination problemi sensitivity performansını ve iyonizasyon stabilitesini doğrudan etkileyen kritik teknik problemler arasında yer almaktadır.

Ion source sistemi:

• iyonizasyon sağlar
• signal intensity oluşturur
• calibration repeatability destekler
• mass doğruluğunu korur

Kaynak kirlenmesi oluştuğunda:

• sensitivity düşebilir
• noise artabilir
• carry over oluşabilir
• calibration drift görülebilir

Türkiye’de Kullanılan LC-MS Sistemleri

• Agilent LC-MS
• Waters Xevo
• Shimadzu LCMS
• Thermo TSQ
• Sciex Triple Quad

Alarm Sebepleri

Teknik Problem	Açıklama
Tuz birikmesi	İyonizasyon azalır
Solvent kalıntısı	Source kirlenir
Numune yüklenmesi	Signal düşer
Cleaning eksikliği	Deposits oluşur

Teknik Belirtiler

• Ion source contamination
• Sensitivity düşüşü
• Noise artışı
• Carry over problemi
• Calibration drift

Teknik Servis Süreci

• Ion source temizliği
• Solvent hattı kontrolü
• Signal doğrulama
• Vacuum analizi
• Calibration performans testi

Bu Cihaz İçin Kullanılan Sarf ve Parçalar

• Ion source cleaning kitleri
• Nebulizer sistemleri
• OEM uyumlu LC-MS parçaları
• solvent filtre sistemleri
• capillary tubing
• calibration standardları
• vacuum seal kitleri
• spray chamber parçaları
• exhaust filtreleri
• roughing pump yağları

Kalibrasyon ve Validasyon

Problemler sonrası:

• sensitivity testi
• signal doğrulama
• mass calibration
• GMP validasyonu

yeniden yapılmalıdır.