ICP-MS Cone Kirlenmesi (Cone Contamination) Teknik Servisi

ICP-MS Sistemlerinde Cone Contamination Neden Oluşur?

ICP-MS cihazlarında oluşan cone contamination problemi iyon transfer performansını ve ultra trace analiz hassasiyetini doğrudan etkileyen kritik teknik problemler arasında yer almaktadır.

Cone sistemi:

• iyon geçişini sağlar
• vakum stabilitesini destekler
• sensitivity performansını korur
• calibration repeatability oluşturur

Cone kirlenmesi oluştuğunda:

• signal intensity düşebilir
• sensitivity azalabilir
• background noise artabilir
• calibration drift görülebilir

Türkiye’de Kullanılan ICP-MS Sistemleri

• Agilent ICP-MS
• PerkinElmer NexION
• Thermo iCAP Q
• Shimadzu ICPMS
• Analytik Jena PlasmaQuant MS

Alarm Sebepleri

Teknik Problem	Açıklama
Tuz birikmesi	Cone daralır
Matrix yüklenmesi	Transfer azalır
Numune kontaminasyonu	Noise artar
Yetersiz cleaning	Deposits oluşur

Teknik Belirtiler

• Cone contamination
• Signal düşüşü
• Sensitivity kaybı
• Calibration drift
• Background yükselmesi

Teknik Servis Süreci

• Cone temizliği
• Vakum analizi
• Plasma performans testi
• Signal doğrulaması
• Calibration kontrolü

Bu Cihaz İçin Kullanılan Sarf ve Parçalar

• Sample cone sistemleri
• Skimmer cone kitleri
• OEM uyumlu ICP-MS parçaları
• nebulizer modülleri
• spray chamber sistemleri
• calibration standardları
• peristaltik pompa hortumları
• argon filtre sistemleri
• cone cleaning kitleri
• vacuum seal kitleri

Kalibrasyon ve Validasyon

Problemler sonrası:

• plasma doğrulama
• mass calibration
• sensitivity testi
• GMP validasyonu

yeniden yapılmalıdır.

WhatsApp Teknik Destek

ICP-MS cone problemleri, ultra trace analiz arızaları ve laboratuvar teknik servis ihtiyaçları için destek alabilirsiniz.

WhatsApp:
https://wa.me/905323273169