GC-MS İyon Kaynağı Kirlenmesi (Ion Source Contamination) Teknik Servisi

GC-MS sistemlerinde ion source contamination problemi özellikle yoğun çalışan laboratuvarlarda sensitivity düşüşüne neden olabilmektedir.

Ion source sistemi:

• iyonizasyon verimini sağlar
• peak hassasiyetini etkiler
• analiz doğruluğunu belirler

Kirlenme oluştuğunda:

• signal intensity düşebilir
• tune başarısız olabilir
• noise artabilir
• calibration drift oluşabilir

Türkiye’de Kullanılan GC-MS Sistemleri

• Agilent 5977
• Shimadzu GCMS-QP serileri
• Thermo ISQ
• PerkinElmer Clarus SQ
• Bruker GC-MS

Kirlenme Sebepleri

Problem	Açıklama
Ağır matrix numuneler	Kalıntı bırakır
Hatalı split ayarı	Yük artışı oluşur
Septum bleed	Kirlenme yapar
Kolon bleed	Sensitivity düşürür

Teknik Belirtiler

• Tune başarısız
• Sensitivity kaybı
• Peak deformasyonu
• Noise yükselmesi
• Background contamination

Teknik Servis Süreci

• Ion source temizliği
• Filament kontrolü
• Vakum analizi
• Tune işlemleri
• Detector kontrolü

Kullanılan Sarf ve Parçalar

• Filament
• Septum
• Ferrule
• Liner
• Cleaning kit
• Vacuum oil
• OEM uyumlu source parçaları

Kalibrasyon Süreçleri

• autotune
• mass calibration
• sensitivity testi
• background kontrolü